












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:09-28 2025 來自:祥宇精密
形位公差是指工件的幾何形狀和位置關系相對于理想狀態的允許偏差。它包括以下幾個方面:
形位公差的精確測量對于確保工件的裝配精度和功能性能具有重要意義。
答案是肯定的,祥宇影像測量儀完全可以進行形位公差檢測。祥宇影像測量儀采用先進的光學測量技術和高精度的圖像處理能力,能夠對工件的幾何形狀和位置關系進行精確測量,確保其在制造過程中的精度和質量。
具體來說,祥宇影像測量儀可以檢測以下形位公差:
祥宇影像測量儀在形位公差檢測中具有以下幾個顯著的優勢:
祥宇影像測量儀采用先進的光學測量技術,測量精度高達微米級,能夠滿足形位公差的高精度測量需求。這對于確保工件在制造過程中的精度和質量至關重要。
祥宇影像測量儀不僅可以測量工件的幾何形狀和尺寸,還可以檢測其形位公差,功能強大,適用范圍廣泛。無論是簡單的二維測量還是復雜的三維測量,祥宇影像測量儀都能夠勝任。
祥宇影像測量儀采用人性化的設計,操作簡單方便,用戶只需經過簡單的培訓即可熟練掌握其使用方法。這對于提高生產效率和降低操作難度具有重要意義。
祥宇影像測量儀采用高速圖像處理技術,測量速度快,能夠在短時間內完成大量工件的測量任務,提高生產效率。這對于滿足現代制造業的高效率生產需求具有重要作用。
祥宇影像測量儀配備專業的數據管理軟件,可以對測量結果進行分類、存儲和分析,方便用戶進行數據管理和質量控制。這對于提高產品質量和生產管理水平具有重要意義。
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